一次扫描检查隐藏结构ZEISS METROTOM 1
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的CT技术，只需一次扫描，任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于体积小，CT扫描系统很容易便能放置于您的测量实验室之中，可以一次性完成内部测量和检查。
一个CT系统，兼具多种优势

ZEISS METROTOM 1使用工业计算机断层扫描技术，是升级您的质量检查产品组合的理想设备。CT系统拥有许多优势：


开州蔡司是CT技术领域的专家，十多年以来，其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系统。蔡司计算机断层扫描系统METROTOM 1现在为每个人都提供了可靠的X射线技术和无损质量保证。

GOM Volume Inspect  全面的3D CT数据分析
ZEISS METROTOM 1配有操作和检测软件GOM Volume Inspect（体积检测）。软件适合初学者使用，结合了CT流程的所有阶段——从扫描设置和重建，到数据评估和报告。软件可以精准地评估几何形状、孔隙或内部结构和装配情况。即使是超小的缺陷也可以通过单个截面图像看到，并且可以使用多种标准自动进行评估。只需一个软件，您就可以将几个组件的体积数据加载到项目中，执行趋势分析，并将采集到的3D数据与CAD模型进行比较等等。